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Charakterisierung von Diamantoberflächen mit Hilfe von Raster-Sonden-Mikroskopien


Project Details
Project duration: 01/199501/1998


Abstract
Die Lösung der wichtigsten Probleme im Bereich der Niederdrucksynthese von Diamant (z.B. Defektbildung, Heteroepitaxie) erfordert zunehmend eine Charakterisierung von Diamantschichten und deren Oberfläche im Nanometerbereich. Dazu sind die Standardverfahren zur Charakterisierung von Diamant nicht in der Lage. Daher bietet sich hier der Einsatz der in jüngster Zeit etablierten Raster-Sonden-Mikroskopien an, der allerdings aufgrund der besonderen Materialeigenschaften von Diamant (z.B. Härte, Leitfähigkeit) nicht trivial ist. Dennoch konnte die Anwendung einer Reihe von Verfahren wie STM, STS, AFM, LFM, SThM und SNOM erfolgreich demonstriert werden; die weiteren Arbeiten werden darauf zielen, Möglichkeiten und Grenzen dieser Verfahren auszuloten und sie dann zur Lösung spezifischer Probleme der Diamantabscheidung anzuwenden.

Last updated on 2017-11-07 at 14:46