Aufsatz in einer Fachzeitschrift
Failure stress of epitaxial silicon thin films



Details zur Publikation
Autor(inn)en:
Käsewieter, J.; Kajari-Schröder, S.; Niendorf, T.; Brendel, R.
Publikationsjahr:
2013
Zeitschrift:
Energy Procedia
Seitenbereich:
926-932
Jahrgang/Band:
38
ISSN:
1876-6102


Zuletzt aktualisiert 2021-27-01 um 07:50