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Investigation of the partial discharge inception voltage of semiconductor sensor packages at repetitive impulse stress under the variation of pulse



Details zur Publikation
Autor(inn)en:
Wels, S.; Schaller, R.; Claudi, A.
Herausgeber:
IEEE International Conference on Dielectrics 2018
Verlag:
IEEE Xplore
Verlagsort / Veröffentlichungsort:
Budapest
Publikationsjahr:
2018
Seitenbereich:
1-4
Buchtitel:
IEEE International Conference on Dielectrics 2018



Autor(inn)en / Herausgeber(innen)

Zuletzt aktualisiert 2018-15-11 um 10:51