Tagungsband
Dispersion optimized white-light interferometer based on a Schwarzschild objective



Details zur Publikation
Autor(inn)en:
Kühnhold, P.; Lehmann, P.; Niehues, J.
Herausgeber:
Peter H. Lehmann, Wolfgang Osten, Kay Gastinger
Verlag:
SPIE
Verlagsort / Veröffentlichungsort:
Washington
Publikationsjahr:
2011
Titel der Buchreihe:
Optical Measurement Systems for Industrial Inspection
Jahrgang/Band:
2011

Zusammenfassung, Abstract
 


Autor(inn)en / Herausgeber(innen)

Zuletzt aktualisiert 2019-25-07 um 17:09