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Error Effects in Microlaser Sensors
Details zur Publikation
Autor(inn)en: | Holzapfel, W.; Hou, L.; Neuschaefer-Rube, S. |
Herausgeber: | International Measurement Confederation (IMEKO) |
Verlag: | IMEKO |
Verlagsort / Veröffentlichungsort: | Vienna, Austria |
Publikationsjahr: | 2000 |
Buchtitel: | Proceedings of the XVI IMEKO World Congress, Sep. 25-28, 2000 |
