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The obvious and hidden values of IT-based peer assessment in management education
Details zur Publikation
Autor(inn)en: | Rietsche, R.; Söllner, M. |
Herausgeber: | Humphreys, John |
Verlag: | AOM |
Verlagsort / Veröffentlichungsort: | Atlanta, Georgia, USA |
Publikationsjahr: | 2017 |
Seitenbereich: | TBD |
Buchtitel: | Academy of Management Annual Meeting |
DOI-Link der Erstveröffentlichung: |