Tagungsband
Dispersion optimized white-light interferometer based on a Schwarzschild objective
Details zur Publikation
Autor(inn)en: | Kühnhold, P.; Lehmann, P.; Niehues, J. |
Herausgeber: | Peter H. Lehmann, Wolfgang Osten, Kay Gastinger |
Verlag: | SPIE |
Verlagsort / Veröffentlichungsort: | Washington |
Publikationsjahr: | 2011 |
Titel der Buchreihe: | Optical Measurement Systems for Industrial Inspection |
Jahrgang/Band : | 2011 |
Zusammenfassung, Abstract
