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RAM tests for safety-related architectures: A first approach
Details zur Publikation
Autor(inn)en: | Schreiber, M.; Delic, E.; Hayek, A.; Börcsök, J. |
Herausgeber: | IEEE |
Publikationsjahr: | 2014 |
Seitenbereich: | 1-6 |
Buchtitel: | 2014 International Symposium on Fundamentals of Electrical Engineering (ISFEE) |
ISBN: | 978-1-4799-6821-3 |
DOI-Link der Erstveröffentlichung: |
