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Reconstruction of offsets of an electron gun using deep learning and an optimization algorithm
Details zur Publikation
Autor(inn)en: | Meier, D.; Hartmann, G.; Völker, J.; Viefhaus, J.; Sick, B. |
Herausgeber: | Meier, David |
Publikationsjahr: | 2020 |
Seitenbereich: | 114930E |
Buchtitel: | Proceedings Volume 11493, Advances in Computational Methods for X-Ray Optics V |
